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以皇晶TL2136B邏輯分析儀提供I2C信號測量解決方案时间:2017-03-27 【转载】 阅读 I2C 總線在電子產(chǎn)品中是很常見的一種總線,它的好處就是只需要兩條線,就可以并聯(lián)很多 IC 進(jìn)行控制;但因?yàn)槎嘌b置(Device)及開路汲極(Open drain)的架構(gòu),常使I2C 總線除錯(cuò)工作變得困難。本文將提出一些實(shí)際的應(yīng)用案例,并使用邏輯分析儀(Logic Analyzer)之各項(xiàng)功能,來協(xié)助排除問題。 使用轉(zhuǎn)態(tài)儲(chǔ)存進(jìn)行長時(shí)間數(shù)據(jù)紀(jì)錄 在 I2C總線訊號發(fā)生異常時(shí),常無法明確的知道是哪個(gè)裝置出錯(cuò)。因此,無法用設(shè)定觸發(fā)的方式來做問題點(diǎn)的定位。使用者多半會(huì)考慮先把所有的波形都擷取回來再慢慢分析。但邏輯分析儀基本是以采樣的方式擷取訊號,不管訊號有沒有改變,都會(huì)隨著采樣擷取動(dòng)作的進(jìn)行,而不斷地消耗內(nèi)存。 而轉(zhuǎn)態(tài)儲(chǔ)存(Transitional Storage)功能是一種波形數(shù)據(jù)的儲(chǔ)存模式,只在波形轉(zhuǎn)態(tài)(Transition)的時(shí)候才將波形數(shù)據(jù)儲(chǔ)存起來,這樣當(dāng)資料不轉(zhuǎn)態(tài)時(shí),邏輯分析儀就可以持續(xù)的等候且不存任何數(shù)據(jù)到內(nèi)存內(nèi)。相對于每個(gè)采樣點(diǎn)都存一次資料的作法,轉(zhuǎn)態(tài)儲(chǔ)存將可以記下更多的數(shù)據(jù)。 I2C 的傳輸速度如下表一,整體來看速度都不會(huì)很快,因此會(huì)非常地適合使用轉(zhuǎn)態(tài)儲(chǔ)存,來拉長可儲(chǔ)存的時(shí)間。
舉例來說,電路板上I2C 總線連接了裝置 A 與裝置 B,但在長時(shí)間燒機(jī)測試(Burn-In Test)的過程中,I2C 總線發(fā)生錯(cuò)誤的問題。已知的現(xiàn)象是當(dāng)發(fā)生錯(cuò)誤時(shí),I2C 總線上會(huì)出現(xiàn)無效的地址(Address),并且燒機(jī)的過程中會(huì)出現(xiàn)數(shù)次。 如何能利用邏輯分析儀來做問題厘清?這樣的問題,若想把所有的波形數(shù)據(jù)都抓下來,其實(shí)是有困難的。 因?yàn)槌霈F(xiàn)問題的時(shí)間點(diǎn)及次數(shù)都很不一定,且長達(dá)好 幾天的燒機(jī)測試也使得把所有的數(shù)據(jù)都 Log 下來顯得不切實(shí)際,又必須在大量的數(shù)據(jù)中尋找問題點(diǎn)。也是相當(dāng)費(fèi)時(shí)費(fèi)力的工作。 因此,可采用邏輯分析儀中的I2C 觸發(fā)功能來進(jìn)行定位。首先,先把裝置 A(Addr:12h) 與裝置 B (Addr:34h)的有效地址輸入。 然后讓邏輯分析儀找出不符合上述兩個(gè)條件的地址。實(shí)際設(shè)定如圖一所示。 圖一 利用I2C 觸發(fā)功能進(jìn)行無效地址定位
然后再搭配邏輯分析儀擷取波形后自動(dòng)儲(chǔ)存功能,就很在燒機(jī)的過程中,每次觸發(fā)成功就存盤,之后再檢視存檔波形之觸發(fā)點(diǎn)即可。善用I2C 觸發(fā)功能可以快速的協(xié)助波形定位,會(huì)比數(shù)據(jù)抓得多來的有意義很多。 同樣的,善用整個(gè)使用I2C 參數(shù)來做為觸發(fā)條件,例如地址符合或數(shù)據(jù)符合或多階式的觸發(fā)來指定更精準(zhǔn)的觸發(fā),這些都是單純使用邊緣觸發(fā)(Edge Trigger)所無法做到的功能。 I2C 觸發(fā)檢查時(shí)間違反(Timing violation)的問題點(diǎn) I2C 總線會(huì)規(guī)范 SCL與 SDA 必須按規(guī)定時(shí)間送出,不然整個(gè)總線的行為將會(huì)發(fā)生錯(cuò)誤,導(dǎo)致通訊失敗。有時(shí)候?qū)嶋H波形的時(shí)間已經(jīng)超出規(guī)格,但卻無法在開發(fā)及驗(yàn)證被挑出來,因?yàn)橛袝r(shí)候時(shí)間誤差都不大,使得產(chǎn)品仍可正常使用。
但問題常常會(huì)留到量產(chǎn)時(shí)才爆發(fā)出來,造成量產(chǎn)不良率攀升,甚至到使用者手上才出現(xiàn)問題;這都是產(chǎn)品開發(fā)所不樂于見到的結(jié)果。 以圖二所示,可啟用邏輯分析儀之時(shí)間違反檢查當(dāng)作觸發(fā)條件,設(shè)定所需檢查的時(shí)間值,再讓邏輯分析儀協(xié)助挑出時(shí)間違反的地方。邏輯分析儀系統(tǒng)采用 200MHz 采樣率來進(jìn)行采樣。 因此,可檢查之最小時(shí)間寬度為 5ns;這樣就可以輔助使用者利用觸發(fā)來做時(shí)間違反檢查,非常適合于燒機(jī)測試時(shí),用這個(gè)方式檢測I2C 總線的訊號時(shí)間。
采用舒密特觸發(fā)電路架構(gòu)擷取質(zhì)量良好的I2C 訊號 使用邏輯分析儀進(jìn)行量測時(shí),常會(huì)看到一些噪聲。但使用示波器看的時(shí)候似乎又沒有,是甚么原因?要如何排除?這是因?yàn)镮2C 總線是開路汲極架構(gòu),總線上又同時(shí)接了很多裝置,還有一些靜電防護(hù)零件等等,可能使得I2C波形不見得會(huì)是很好的方波。 常見的I2C 波形如圖三、四所示。但這樣的波形在I2C 規(guī)范里面,是正?山邮艿模]有問題。 也因?yàn)檫@樣,一般I2C芯片,都會(huì)規(guī)范在訊號輸入腳位必須要有舒密特觸發(fā)(Schmitt trigger)電路,以便于完善的解決訊號輸入后能正確的處理邏輯訊號。為此,邏輯分析儀也可循此法做較完善的訊號解擷取動(dòng)作。 圖五為一般邏輯分析儀,此用單一個(gè)觸發(fā)準(zhǔn)位的方式來做邏輯0與邏輯1 的區(qū)分。這樣的作法,很容易在待測訊號經(jīng)過觸發(fā)準(zhǔn)位(Threshold)附近時(shí),產(chǎn)生很多不可預(yù)期的邏輯變化。 使得擷取出來的訊號像是噪聲或彈跳的現(xiàn)象。
若采用低通濾波(Low-pass filter)的做法,是可以濾除噪聲,但又使得可能造成線路問題的高頻噪聲也同時(shí)被濾掉了。無論如何,這都不是適當(dāng)?shù)慕鉀Q方案。 而圖六則是啟用了舒密特觸發(fā)電路之后的畫面,此架構(gòu)采用了兩組觸發(fā)電壓,分別為 Thres-high 與 Thres-low。兩個(gè)電壓間,就是所謂不轉(zhuǎn)態(tài)區(qū)域,在這個(gè)區(qū)間內(nèi),不管訊號怎么改變,都不會(huì)影響邏輯判斷。這樣就可以正常的擷取到I2C 訊號,且真正的高頻噪聲也不會(huì)漏掉,也符合I2C 芯片設(shè)計(jì)規(guī)范。 堆棧示波器可同時(shí)看到I2C數(shù)字與模擬訊號 在使用了邏輯分析儀所提供的I2C總線觸發(fā)與分析功能后。擷取下來的波形開始要進(jìn)行問題分析階段,常常很多項(xiàng)目都是軟硬件共同合作,參與的人很多,若無法同時(shí)看到對應(yīng)的模擬訊號,對于厘清問題幫助不大。尤其是線路造成的問題,數(shù)字訊號并無法清楚地呈現(xiàn)出問題點(diǎn)。 但是,單純邏輯分析儀堆棧示波器并沒有任何幫助,因?yàn)榇蟛糠值臅r(shí)候邏輯分析儀可以抓的時(shí)間長度會(huì)遠(yuǎn)大于示波器,這樣,即使示波器顯示波形出來,也不在正確的位置上。唯有透過邏輯分析儀的觸發(fā)功能進(jìn)行訊號定位,這樣抓到的模擬訊號才是有意義的。 圖七就是利用堆棧并設(shè)定觸發(fā)之后同時(shí)抓到數(shù)字與模擬訊號,用戶可以將它發(fā)送給需要看波形的人,I2C總線數(shù)字譯碼的部分可讓用戶快速理解他所看到波形。而模擬訊號的部分,則忠實(shí)的呈現(xiàn)出波形的原貌。兩者這樣的結(jié)合,成為最佳的量測方案。 |